一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置
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摘要
本实用新型公开了一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，包括底座、弹簧、顶块、托块、手持式X荧光光谱仪主体、下滑动座、中滑动座和上滑动座，所述弹簧套设在顶块下侧的轴状部分上，所述顶块下端插入底座中的座孔内部，所述弹簧和顶块的上侧部分位于托块中的块顶腔内部，所述托块通过托块螺丝穿过边槽中的通孔进入座螺纹孔内部与底座固定，所述托块中的燕尾条位于手持式X荧光光谱仪主体下端的燕尾槽内部，顶块上端位于圆凹口内部，下滑动座下端的下凸条位于底座中的座滑槽内部，下滑动座通过下螺丝穿过下螺丝槽进入下螺纹孔内部与底座固定。该手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，利于尺寸较小的轴状零件的材质测定，适合普遍推广使用。
基本信息
专利标题 ：
一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021501402.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-27
授权号 ：
CN213022930U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
金巍康增桥
申请人 ：
北京华欧世纪光电技术有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西三环北路72号院B座1808室
代理机构 ：
北京中索知识产权代理有限公司
代理人 ：
周国勇
优先权 ：
CN202021501402.7
主分类号 ：
G01N23/2204
IPC分类号 ：
G01N23/2204 G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架；样品的输送方法
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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