一种用于光学摄影测量跟踪器的校准装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于光学摄影测量跟踪器的校准装置,包括连接杆和两个金属件,两个所述金属件分别连接于所述连接杆的两端;两个所述金属件均具有第一标定面和第二标定面;两个所述第一标定面相互平行,并且两个所述第一标定面均不与所述连接杆的轴线平行;两个所述第二标定面相互平行,并且两个所述第二标定面均与所述连接杆的轴线平行;每个所述第一标定面和所述第二标定面上均设置有多个反光标定点;本实用新型结构紧凑,便于使用与运输;并且本实用新型的标志点排布在4个面,两个角度,能够适应跟踪器视野范围内的多个距离、多个角度的标定。
基本信息
专利标题 :
一种用于光学摄影测量跟踪器的校准装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021185995.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-22
授权号 :
CN212658242U
授权日 :
2021-03-05
发明人 :
朱中尉陈真
申请人 :
武汉中观自动化科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号(凤凰园中路交汇处)光谷动力节能环保产业园内6号楼5层15号
代理机构 :
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
严超
优先权 :
CN202021185995.0
主分类号 :
G01C3/00
IPC分类号 :
G01C3/00 G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C3/00
视距测量;光学测距仪
法律状态
2021-03-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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