一种基于三极管设计的导通测试电路
授权
摘要
本发明提供一种基于三极管设计的导通测试电路，包括四个电阻R1、R2、R3和R4，两个发光二极管D1和D2，三极管Q1、两个测试点1号、2号和电源，通过测试点1号、2号连接待测线束，三极管Q1的发射极串联发光二极管D2和电阻R3后连接在电源上，三极管Q1的集电极接地，三极管Q1的基极串联电阻R4后连接在测试点1号，测试点2号接地，电阻R2串联发光二极管D1后整体并联在发光二极管D2和测试点2号上，电阻R1并联在发光二极管D1两端。通过三极管的特性，将待检测的电路接入导通测试电路的测试点之间，检测出待检测电路是否导通，并且无需较高的成本，结构简单，装配方便，通过实际测试，方案可行，经济实用。
基本信息
专利标题 ：
一种基于三极管设计的导通测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021192527.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-24
授权号 ：
CN213069137U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
赵灵君
申请人 ：
芜湖德鑫智控有限公司
申请人地址 ：
安徽省芜湖市弋江区高新开发区南扩支十路中小企业创新园13#厂房的第三层
代理机构 ：
南京正联知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡定华
优先权 ：
CN202021192527.6
主分类号 ：
G01R31/54
IPC分类号 ：
G01R31/54 G01R31/58
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/54
测试连续性
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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