一种覆膜后表面缺陷检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种覆膜后表面缺陷检测装置,包括工作台,所述工作台的底端四角处均固定设有支腿,所述工作台的底端中间位置处固定设有壳体,所述工作台顶端的两侧分别转动设有主动辊和从动辊,所述主动辊与所述从动辊之间通过传送带连接,所述工作台上滑动设有U型架,所述U型架的上部设有螺杆一和滑杆,所述螺杆一与所述U型架转动连接,所述滑杆与所述U型架固定连接,所述螺杆一位于所述滑杆的正上方,所述螺杆一上螺纹套设有螺纹座一,所述滑杆上滑动套设有固定座,本实用新型结构简单,使用方便,可以方便调节检测装置的位置,从而适用于不同产品的检测,增加了装置的适用性,同时有效的提高了检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种覆膜后表面缺陷检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021351856.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-10
授权号 :
CN213091516U
授权日 :
2021-04-30
发明人 :
皮富谋田涛
申请人 :
苏州锟荣精密电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区木渎镇木胥东路39号8幢二楼
代理机构 :
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王利斌
优先权 :
CN202021351856.0
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-04-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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