一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖
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摘要

本技术公开一种X光射线测厚仪测量头专用的下盖,包括有圆形盖体,在圆形盖体的中心成型有与测量头相对应匹配的通孔,在通孔朝测量头的一端出口侧壁分为两段半圆弧段,一段成型为弧线段吹风口,另一端成型为弧线段接收口,在圆形盖体内对应弧线段吹风口的一侧体内成型有送风隧道,送风隧道的入口设有气嘴,在圆形盖体内对应弧线段接收口的一侧底部设置有储液盒,同时圆形盖体体内成型有废液通道,废液通道的一端连接弧线段接收口,另一端连接储液盒,圆形盖体的外圆周上成型有多个螺孔,在圆形盖体与测量头配合装配的端面上设置有密封圈,通过在测量头圆周边的一侧射出气体,另一侧接收吹过来的废液,从而保证测量头表面清洁度和测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021361935.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-10
授权号 :
CN212340193U
授权日 :
2021-01-12
发明人 :
梁初冯日阳陈世平
申请人 :
佛山市三水麦驰五金制品有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市三水区云东海街道兴业一路3号之一
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
尚欣
优先权 :
CN202021361935.X
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02  B08B5/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2021-01-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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