一种质量特性测量装置
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摘要
一种质量特性测量装置，属于航天飞行器质量特性测量技术领域，包括托盘(1)、支撑座(2)、支撑销(3)、测量销(4)、传感器(5)、限位销(6)；所述支撑座(2)包括三个相同的支撑架，每个支撑架的两端均设有支撑面；一个支撑面触地，另一个支撑面的中部设有凸台，两侧设有限位销安装孔和支撑销安装孔；每个支撑销安装孔上固定安装一个支撑销(3)；每个限位销安装孔上固定安装一个限位销(6)，所述托盘(1)在每个限位销(6)处设有定位孔，所述限位销(6)插入定位孔中；每个支撑面的凸台上安装一个传感器(5)，所述测量销(4)安装在托盘(1)上，测量销(4)的球头位于传感器(5)的球窝内。
基本信息
专利标题 ：
一种质量特性测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021365425.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-13
授权号 ：
CN212766813U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
北京凌空天行科技有限责任公司
申请人地址 ：
北京市大兴区经济技术开发区荣华南路2号院3号楼1101
代理机构 ：
天津市鼎拓知识产权代理有限公司
代理人 ：
任小鹏
优先权 ：
CN202021365425.X
主分类号 ：
B64F5/60
IPC分类号 ：
B64F5/60
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B64
飞行器；航空；宇宙航行
B64F
与飞机相关联的地面装置或航空母舰甲板装置；其他类目不包括的飞机设计、制造、装配、清洗、维修或修理 ；其他类目不包括的飞机部件的处理、运输、测试或检查
B64F5/60
•飞机部件或系统的测试或检查
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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