一种扫平仪激光探测器二极管的制备装置
专利申请权、专利权的转移
摘要

本实用新型涉及一种扫平仪激光探测器二极管的制备装置,包括底座与酸洗箱,所述底座顶部一侧边缘处固接有L形支架,所述L形支架的水平部底部安装有气缸,所述气缸底部的活塞杆底端固接有盖板,所述盖板的底部中心处固接有活动杆,所述活动杆底端套接于套筒内,所述套筒底端固接有酸洗框,所述酸洗箱底部四周通过支撑杆与所述底座顶部固接,所述底座顶部还安装有驱动电机,所述驱动电机顶部固接有主动轴,本实用新型酸洗框即可脱离酸洗箱,又可以在酸洗箱内转动,酸洗框在支撑板的带动下水平转动,且搅动后的酸液与酸洗框的转动配合,使得酸洗框内的二极管获得很好的清洗效果。

基本信息
专利标题 :
一种扫平仪激光探测器二极管的制备装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021402776.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-16
授权号 :
CN212587459U
授权日 :
2021-02-23
发明人 :
陈玮
申请人 :
陈玮
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区中国传感网国际创新园C1
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021402776.3
主分类号 :
H01L21/67
IPC分类号 :
H01L21/67  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
法律状态
2021-12-17 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : H01L 21/67
登记生效日 : 20211203
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 陈玮
变更后权利人 : 湖南视威智能设备有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 214028 江苏省无锡市新吴区中国传感网国际创新园C1
变更后权利人 : 410000 湖南省长沙市中国(湖南)自由贸易试验区长沙片区螺丝塘路1号、3号德普五和企业园二期12栋205
2021-02-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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