一种辅助测试治具
授权
摘要
本实用新型涉及测试技术领域，本申请公开的一种辅助测试治具，包括承载台以及与承载台相垂直且围绕在承载台周围的侧部，侧部包括第一侧部、第二侧部、第三侧部以及第四侧部；第一侧部内侧设置第一轨道和第二轨道，第二侧部内侧设置第三轨道和第四轨道，第二轨道和第四轨道之间设置第一滑杆和第二滑杆，第一轨道和第三轨道之间设置第三滑杆和第四滑杆，第一滑杆和所述第二滑杆构成第一测试位置，第三滑杆和所述第四滑杆构成第二测试位置，第一测试位置和第二测试位置在垂直方向设置有间距；承载台内部设置背光模组，第一测试位置和第二测试位置用于放置干扰体。本实用新型提供的一种辅助测试治具，测试精准，画面清楚，便于操作。
基本信息
专利标题 ：
一种辅助测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021433214.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-20
授权号 ：
CN213240336U
授权日 ：
2021-05-18
发明人 ：
刘步石
申请人 ：
昆山龙腾光电股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021433214.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-05-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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