一种天线测试结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种天线测试结构包括基台及测试组件,基台上设置有测试区,测试区上开设有放置槽,测试组件包括天线、天线匹配单元、接地带及测试设备,天线设置于天线匹配单元上,天线匹配单元用于与天线相匹配而实现固定,天线匹配单元、接地带及测试设备分别设置于放置槽内,天线匹配单元、接地带及测试设备顺序连接,接地带是放置在基台的放置槽内的,在基台的支撑下,提高了测试效率,缩短了测试周期。天线匹配单元、接地带及测试设备分别设置于放置槽内,放置槽对天线匹配单元、接地带及测试设备起到限位、定位的作用,如此,减少了人工成本,保证了测试结果的稳定性,实现辐射发射测试的快速布置的效果。
基本信息
专利标题 :
一种天线测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021477206.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-23
授权号 :
CN213023224U
授权日 :
2021-04-20
发明人 :
王光云
申请人 :
恺信国际检测认证有限公司;惠州仲恺高新区智能终端技术研究院
申请人地址 :
广东省惠州市仲恺高新区29号小区实验楼第1至3层
代理机构 :
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 :
黄寿华
优先权 :
CN202021477206.0
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/00 G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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