一种用于玻璃量测的光谱测量仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于玻璃量测的光谱测量仪,光谱测量仪包括模组座、入射组件和反射组件;通过模组座形成一腔体,通过入射组件接入待测物体反射会的反射光线,并将其传输到模组座的腔体内,然后通过反射组件将反射光线反射到模组座的腔体底部的反射式光栅组件,并将反射光线反射回设于模组座顶部的控制板收集待测玻璃反射回的反射光线发送至外部的光谱分析仪进行光谱分析,进而得出待测玻璃的厚度。本实用新型提供的光谱测量仪具有结构简单,操作方便,适应性广等特点。

基本信息
专利标题 :
一种用于玻璃量测的光谱测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021601379.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-04
授权号 :
CN212988272U
授权日 :
2021-04-16
发明人 :
侯峰王冠文庄得粮关力
申请人 :
长园半导体设备(珠海)有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市高新区科技八路5号3栋(研发楼)5楼
代理机构 :
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
孙柳
优先权 :
CN202021601379.9
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2021-04-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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