一种架空型芯片检测系统
授权
摘要
一种架空型芯片检测系统，包括：供电单元，用于提供工作电源；信号采集电路,用于采集被测电路板上多个待测点的电压；集成式连接组件，其一端与信号采集电路的输入端连接，另一端与被测电路板上多个待测点连接；处理器单元，与信号采集电路的输出端连接，用于接收信号采集电路采集的电压并传输至外部设备。本实用新型实施例的架空型芯片检测系统相较于传统的检测方式，不再需要人工进行逐个的排查，可以直接对所有的故障点进行一次性检测，极大的节约了检测时间，有效的提高了生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种架空型芯片检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021731551.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-18
授权号 ：
CN213337964U
授权日 ：
2021-06-01
发明人 ：
雷波刘文平
申请人 ：
湖南长高思瑞自动化有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市长沙高新开发区尖山路39号长沙中电软件园一期9栋厂房802室
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
赵琴娜
优先权 ：
CN202021731551.2
主分类号 ：
G01R31/52
IPC分类号 ：
G01R31/52 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/52
测试短路、泄漏电流或接地故障
法律状态
2021-06-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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