用于功率晶体管的故障检测电路
授权
摘要
本公开涉及用于功率晶体管的故障检测电路。公开了一种设备和操作设备来提供对功率半导体装置诸如功率晶体管进行快速故障检测的方法。在一些实施例中，提供了一种用于功率晶体管的基于去饱和的故障检测电路。故障检测电路具有可调整消隐时间和处于消隐机制的隔离开关，所述可调整消隐时间和断开开关允许快速启动故障检测机制以实现对功率半导体装置的快速故障检测时间。
基本信息
专利标题 ：
用于功率晶体管的故障检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021825990.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-27
授权号 ：
CN214067318U
授权日 ：
2021-08-27
发明人 ：
D·古纳塞克拉M·J·科林斯K·G·理查森A·兹尔盖尔S·唐荷B·嘉杜斯
申请人 ：
亚德诺半导体国际无限责任公司
申请人地址 ：
爱尔兰利默里克
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张丹
优先权 ：
CN202021825990.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-08-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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