测试机构
授权
摘要
本申请提供了一种测试机构,包括直线移动组件、由直线移动组件驱动的第一测试模组以及设于直线平移组件两端的两个第二测试模组,第一测试模组包括两个第一测试组件,第二测试组件包括升降组件以及由升降组件驱动移动的第二测试组件,第一测试组件具有用于放置待测件的放置槽。本申请提供的测试机构,第一测试模组具有两个第一测试组件,将其中一个第一测试组件移动至其中一个第二测试组件处,第一测试组件和第二测试组件相互接触对待测件进行测试时,另一个第一测试组件内已经测试完毕的电子器件可由下料机构取出,并由上料机构放入下一个待测件,使得待测件的检测和上下料可同时进行,缩短检测时间,提高检测效率。
基本信息
专利标题 :
测试机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021862833.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-28
授权号 :
CN213633498U
授权日 :
2021-07-06
发明人 :
何颖东陈正仕陈绍锋
申请人 :
深圳市三一联光智能设备股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区宝安大道与海城路交汇处劳动综合楼(德信商务中心)一至七楼(F7-22)
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
刘艳
优先权 :
CN202021862833.6
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-07-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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