本申请提供了一种测试机构，包括用于放置待测件的测试盘、用于驱动所述测试盘旋转的旋转组件、用于对所述测试盘上的待测件检测的测试组件以及用于驱动所述测试组件靠近或远离所述测试盘的升降组件，所述测试盘包括由所述旋转组件驱动旋转的盘本体以及固定于所述盘本体上的至少两个用于放置待测件的定位结构。本申请提供的测试机构，在测试组件测试的同时，下料机构可以对定位结构内已经检测完成的电子器件下料，上料机构可以对空置的定位结构进行上料，使得上下料和检测同时进行，能够缩短检测时间，提高检测效率。