本实用新型是有关一种测试机构，包含有固定单元、位于固定单元下方的活动单元及测试座，固定单元具有一容置空间及设在容置空间内的缓冲元件，该活动单元具有至少一沿一第一方向活动且一端轴设在容置空间内的嵌引件，该测试座位于活动单元下方且与嵌引件相连结，具有一顶面、一相反于顶面的底面，及至少一设于底面的嵌置孔，用以吸附一测试治具。本实用新型利用容置空间内缓冲元件，加上测试座顶面与嵌引件间形成缓冲室，提供了测试机构下移压制待测IC时轴向缓冲位移行程，能防止因施压力道过大造成IC晶片破损；另还藉由滑动单元搭配连结单元弧形孔，使测试座适时产生径向偏摆，能平稳正确与待测IC产生对位效果，实现单一测试单元同时测试多组IC晶片，而可提升测试效率。