本申请提供了一种测试机构，包括测试盘组件、旋转的旋转组件、下压测试组件和升降组件，测试盘组件包括盘本体、至少两个测试座，测试座包括第一座本体以及第一电路板，座本体具有良品放置槽和测试槽，下压测试组件包括第二座本体和第二电路板，第二电路板上电连接有用于接触良品的第一探针组件和用于接触待测件的第二探针组件。本申请提供的测试机构，在其中一个测试座位于下压测试组件处进行测试时，其他测试座可同步进行上下料操作，提高检测速度；而且，待测件、良品、第一电路板和第二电路板可以形成导通回路，无需在下压测试组件及测试座上外接线缆，在测试盘组件旋转时，不会发生线缆缠绕的现象。