一种激光减薄晶圆厚度测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种激光减薄晶圆厚度测量装置,包括测厚装置,测厚装置内部设置信号转换器,信号转换器上连接激光探测头,测厚装置底部设置底座滑轨,测厚装置上设置导线,导线连接控制器,测厚装置左侧设置载物台,载物台左侧连接支撑横杆,支撑横杆左端连接支撑竖杆,支撑竖杆底部连接支撑滑块,支撑滑块底部设置滑轮。该激光减薄晶圆厚度测量装置,结构设置合理,将晶圆放置在载物台内,测厚装置的左右移动以及支撑滑块的前后移动,测厚装置内的激光探测头将探测到的晶圆厚度信息通过信号转换器传输至控制器的显示屏上,有人员通过操作装置将信息经过精确计算得出晶圆厚度,如此便能够更好的保证晶圆的高效生产,促进晶圆行业的发展。

基本信息
专利标题 :
一种激光减薄晶圆厚度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021865406.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-31
授权号 :
CN212843427U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
陶为银巩铁建
申请人 :
河南通用智能装备有限公司
申请人地址 :
河南省郑州市高新技术产业开发区瑞达路96号创业中心2号一楼A130-10号
代理机构 :
郑州中原专利事务所有限公司
代理人 :
范小方
优先权 :
CN202021865406.3
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  H01L21/66  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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