基于X光的薄膜按键弹片检测机构
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摘要

基于X光的薄膜按键弹片检测机构,包括进料卷料装置和收料卷料装置,为按键弹片提供编带的载带经进料卷料装置进行放卷并拉延至收料卷料装置进行收卷;配置有与拉延于进料卷料装置和收料卷料装置的载带配合的检测区域,检测区域内设有对载带进行按键弹片检测的检测装置;其特征在于,检测装置包括对称的分别布置于载带两面的X光发射装置和X光成像装置,X光发射装置向载带发射X光,X光成像装置接受穿透载带的X光获得透视影像。本实用新型以收、放卷的形式提高了工作效率,并且通过X光穿透为按键弹片提供编带的载带获得透视影像,在透视影像中能清晰检视载带上的按键弹片缺失、位置偏移、外形残缺、多片重叠等不良情形,提高了准确度。

基本信息
专利标题 :
基于X光的薄膜按键弹片检测机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021928649.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-07
授权号 :
CN212748766U
授权日 :
2021-03-19
发明人 :
晏正龙
申请人 :
深圳市圣智明技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区第七工业区10栋利斯泰厂201
代理机构 :
深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
缪太清
优先权 :
CN202021928649.7
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01B15/00  G01B15/04  B65H18/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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