一种T/R阵列自动测试系统校准套件及测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种T/R阵列自动测试系统校准套件及测试系统，包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块，所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头，通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。本实用新型可很大程度的提升T/R阵列自动测试系统的校准精度和校准效率，可满足在大规模T/R阵列自动测试系统中的校准要求；区别于目前矢量网络分析仪厂商提供的高精密校准工具箱，对加工工艺有极大要求，本实用新型所需标准件的加工工艺能满足一般的工程化实现。
基本信息
专利标题 ：
一种T/R阵列自动测试系统校准套件及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022027176.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-16
授权号 ：
CN212569116U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
韩周安彭安虎彭毅张文权
申请人 ：
成都爱科特科技发展有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市青羊区敬业路218号28栋
代理机构 ：
成都金英专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
袁英
优先权 ：
CN202022027176.X
主分类号 ：
G01S7/40
IPC分类号 ：
G01S7/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/02
与G01S13/00组相应的系统的
G01S7/40
监测或校准装置
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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