一种通用型测试机台
授权
摘要
本实用新型属于测试机台领域，尤其是一种通用型测试机台，包括下机台、升降门、上机台，升降门和上机台均安装在下机台上，本实用新型可以同时适用电路板测试和成品测试工站等多工站测试需求，该通用型测试台可放置不同种类，不同尺寸的测试夹具使用，兼容多规格多类别测试夹具，增加了测试机台的流转使用的通用性，减少了测试设备的报废率，节约了测试成本，测试机台可同时提供电、气接口，可满足气动和电动等不同运动方式的需求，为测试设备的设计留有更大的发挥空间。
基本信息
专利标题 ：
一种通用型测试机台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022086347.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-22
授权号 ：
CN213423352U
授权日 ：
2021-06-11
发明人 ：
陈玉华
申请人 ：
新拓尼克（北京）科技研发中心有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区望京利泽中园二区203号内3号楼三层1305室
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
王德桢
优先权 ：
CN202022086347.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-06-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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