一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪
授权
摘要
本实用新型公开一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采集卡将信号传输至控制单元；还具有微处理器，其信号输入端接收控制单元的指令，输出端输出控制信号接至马达控制回路中。本实用新型结合了可移动样品检测点的背散射技术和互相关计算的背向散射互相关纳米粒度仪真正的实现了对于高浓度高浊度样品的准确检测，并进一步增进了快相关计算能力。该设备具有很好的推广和实用价值，广泛的推广应用后会产生良好的经济效益和社会效益。
基本信息
专利标题 ：
一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022240754.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-10
授权号 ：
CN212301218U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
李晓光李晓旭宁辉刘岳强陈权威郑浩孙健
申请人 ：
丹东百特仪器有限公司
申请人地址 ：
辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号
代理机构 ：
沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李晓光
优先权 ：
CN202022240754.8
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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