一种分光测量治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种分光测量治具，包括底座，所述底座包括相互垂直设置的底板和竖板，所述底板上设有卡槽座；所述卡槽座上设置有若干卡槽，所述卡槽用于放置待测滤光片；所述卡槽和所述竖板平行，或者所述卡槽和所述竖板呈30°设置；所述竖板上设有透光孔。通过在分光测量治具的透光孔前的卡槽座上设置若干0°/30°的卡槽，卡槽方便滤光片在0°/30°时的放置，这种对治具的结构改进，使得用UV1800设备测量时，分光测量治具能方便放置在0°/30°，使得UV1800分光仪在透过350‑400nm区间的测试准确。
基本信息
专利标题 ：
一种分光测量治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022255435.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-12
授权号 ：
CN212904508U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
刘耿徐小东赵堃
申请人 ：
东莞市微科光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市万江街道蚬涌工业路8号1号楼101室
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹君君
优先权 ：
CN202022255435.4
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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