一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置，涉及检测装置技术领域。本实用新型的结构包括箱体、支架、条板、暗箱、发射模块、接收模块，所述箱体顶侧壁凹槽内设置有一号传送装置和二号传送装置，所述支架和暗箱的底端固定在箱体顶侧壁上，所述支架后侧壁上固定右一号电机，所述一号电机前端固定有二号丝杆，所述一号丝杆上两个移动块下各固定一个条板，所述暗箱间隙空间内各设置有两个隔光门，两个隔光门顶端通过连接杆固定，所述暗箱顶壁内的二号电动推杆底端与连接杆固定，所述发射模块固定在暗箱间隙后侧壁凹槽内，所述接收模块设置在暗箱间隙空间前侧壁凹槽内。本实用新型可将ITO膜准确送入检测位置上，且避免外部光源干扰。
基本信息
专利标题 ：
一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022261219.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-12
授权号 ：
CN213456710U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
姜建峰
申请人 ：
赫得纳米科技(昆山)有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市昆山开发区高科技工业园都市路21号
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN202022261219.0
主分类号 ：
G01N21/89
IPC分类号 ：
G01N21/89 G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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