一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置，包括光源发生器、缺陷探测判别器和用于放置被测对象的检测平台，所述光源发生器包括第一壳体、顺序设置于第一壳体内的窄带光源、准直器、起偏器和相位延迟器，窄带光源发出光束，准直器、起偏器和相位延迟器分别用于对光束进行准直、起偏和相位延迟，输出椭圆偏振光到被测对象上；所述缺陷探测判别器包括第二壳体、顺序设置于第二壳体内的检偏器、成像镜头和探测器，检偏器用于接收反射光信号，成像镜头用于将信号传递给探测器靶面，探测器用于将信号传递给信号处理器。本实用新型将触摸屏ITO膜不平度缺陷转化为光学图像，将缺陷细节放大且图像对比度高，能有效提高缺陷的识别效率。
基本信息
专利标题 ：
一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921520252.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-12
授权号 ：
CN210626360U
授权日 ：
2020-05-26
发明人 ：
曾爱军
申请人 ：
南京先进激光技术研究院
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区经济技术开发区恒园路1号
代理机构 ：
南京睿之博知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐晓鹭
优先权 ：
CN201921520252.1
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/84 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-05-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
