热开关装置及低温测试设备
授权
摘要

本实用新型涉及热开关技术领域,尤其涉及一种热开关装置及低温测试设备。该热开关装置包括调节机构、夹持机构以及辐射屏罩,夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部,固定部通过第一转动轴分别与两个第一连接板的上端转动连接,两个第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个第二连接板的上端对应转动连接,两个第二连接板之间通过第三转动轴相互交叉转动连接,两个第二连接板的下端分别与两个夹持部对应固定连接,两个定位板的上端分别与辐射屏罩的上顶板固定连接,两个定位板的下端分别与第三转动轴的两端对应固定连接。本实用新型适用于悬挂样品的降温控制,结构简单,操作方便。

基本信息
专利标题 :
热开关装置及低温测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022383657.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-23
授权号 :
CN213544447U
授权日 :
2021-06-25
发明人 :
张思懿沈福至刘辉明李永王维徐冬黄荣进李来风
申请人 :
中国科学院理化技术研究所
申请人地址 :
北京市海淀区中关村东路29号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
李文丽
优先权 :
CN202022383657.4
主分类号 :
G01N25/00
IPC分类号 :
G01N25/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
法律状态
2021-06-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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