一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统，包括测试平面以及固定设置于所述测试平面上的支架以及设置于所述支架上的信号源，所述测试平面设置于所述信号源的正下方，所述测试平面上以所述信号源正投影点为圆心的同心圆圆弧上布置有多个探测器，所述测试平面上涂抹有具有反射特性的材料。本实用新型解决了现有技术的辐射方向图测量系统是基于测角光度计，通常远场强度是通过测角光度计(GM)旋转逐步进行逐步测量的，操作复杂，对于具有窄视角的源而言测量精度不是很理想，且难以实现多通路数据同时采集等技术问题。
基本信息
专利标题 ：
一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022476353.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-01
授权号 ：
CN213874652U
授权日 ：
2021-08-03
发明人 ：
杨晨秦泽生宋家勇王阳
申请人 ：
贵州大学
申请人地址 ：
贵州省贵阳市花溪区
代理机构 ：
贵州科峰专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
穆元城
优先权 ：
CN202022476353.2
主分类号 ：
G01J1/56
IPC分类号 ：
G01J1/56 G01J1/08 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/56
利用辐射压力或辐射计效应
法律状态
2021-08-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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