光合有效辐射测量装置
授权
摘要
一种光合有效辐射测量装置，以测量作物冠层空间内的光合有效辐射分布数据。它包括固定架、多个光合有效辐射传感器；所述固定架包括设置在同一平面上等距设置的多根固定杆和连接该些固定杆的连杆，该些光合有效辐射传感器阵列式安装在所述固定杆上，所述光合有效辐射传感器的感光元件朝上设置，并设置在与所述固定架及该些光合有效辐射传感器的导线相避让的位置，以避免所述固定架、该些光合有效辐射传感器的导线干扰所述光合有效辐射传感器的测量值。它可以测量作物冠层空间内的光合有效辐射分布数据。
基本信息
专利标题 ：
光合有效辐射测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920682756.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-14
授权号 ：
CN209706952U
授权日 ：
2019-11-29
发明人 ：
杨北方李亚兵韩迎春王国平冯璐王占彪雷亚平范正义李小飞熊世武邢芳芳杜文丽辛明华
申请人 ：
中国农业科学院棉花研究所
申请人地址 ：
河南省安阳市开发区黄河大道38号
代理机构 ：
河南科技通律师事务所
代理人 ：
张晓辉
优先权 ：
CN201920682756.7
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/44 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2019-11-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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