一种光学元器件厚度的测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及光学元件技术领域,且公开了一种光学元器件厚度的测量装置,包括防护壳,所述防护壳的内顶壁固定连接有固定块,所述固定块的底部固定连接有电动推杆,所述电动推杆的一端固定连接有连接块,所述防护壳的内侧壁固定连接有隔板,所述隔板的顶部固定连接有安装块。该光学元器件厚度的测量装置,达到了该光学元器件厚度的测量装置固定效果好的目的,解决了一般光学元器件厚度的测量装置固定效果不好的问题,电动推杆将连接块与垫子往下推动,对光学元其进行纵向固定,然后将活动杆从滑槽中抽出,找到合适的位置插入槽中,对光学元器件进行横向固定,两个方向对光学元器件进行固定,使测量更加的精准,满足需求。
基本信息
专利标题 :
一种光学元器件厚度的测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022478251.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-30
授权号 :
CN213748191U
授权日 :
2021-07-20
发明人 :
冯辉
申请人 :
西安杰瑞测量科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市莲湖区丰登路67号59幢1单元13105室
代理机构 :
西安智财全知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张鹏
优先权 :
CN202022478251.4
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06 G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-07-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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