校正光谱仪中的振幅变化的方法
公开
摘要
一种校正光谱测定仪器(300)的输出中的由于通过样品保持器(600)的光学路径长度(L)的变化而引起的振幅变化的方法，所述方法包括：在多个波数下使样品保持器(600)中的样品暴露于电磁辐射；在所述多个波数下检测所述样品中的电磁吸收强度；向计算机装置(510)提供针对波数索引的检测到的吸收强度作为光谱数据；以及在所述计算机装置(510)中将数学变换(Icorr)应用于所述光谱数据以校正所述光谱测定仪器(300)的输出中的振幅变化，并且通过确定在两个不同波数范围下在来自零材料样品的光谱数据(SBZl)的一阶导数下的吸光度值之间的差(Δ(SBZ)/)来计算所述数学变换；以及计算作为与所确定的差(Δ(SBZ)/)逆相关的函数的所述数学变换(Icorr)。
基本信息
专利标题 ：
校正光谱仪中的振幅变化的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114270171A
申请号 ：
CN202080038700.3
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
P·W·汉森J·S·克劳森
申请人 ：
福斯分析仪器公司
申请人地址 ：
丹麦海勒欧
代理机构 ：
余姚德盛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周积德
优先权 ：
CN202080038700.3
主分类号 ：
G01N21/27
IPC分类号 ：
G01N21/27 G01N21/3577 G01N33/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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