X射线单元技术模块和自动化应用训练
公开
摘要

一种扫描仪,包括:电磁波源;以及检测器,其定位成测量来自电磁波源的发射,其中电磁波源包括第一技术,并且电磁波源可与包括第二技术的第二电磁波源互换,和/或其中检测器包括第一技术,并且检测器可与包括第二技术的第二检测器互换。扫描仪可以包括存储介质,其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法,该方法包括:操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射;移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射;记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射;以及选择在检查污染物时使用的参数组合。

基本信息
专利标题 :
X射线单元技术模块和自动化应用训练
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114270180A
申请号 :
CN202080058161.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2020-08-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杰弗里·C·吉尔阿梅尔·M·巴特理查德·蒂姆佩里奥
申请人 :
卓缤科技贸易公司
申请人地址 :
美国伊利诺斯州
代理机构 :
北京汇思诚业知识产权代理有限公司
代理人 :
刘晔
优先权 :
CN202080058161.X
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N23/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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