非接触非破坏检查系统、信号处理装置以及非接触非破坏检查方...
实质审查的生效
摘要
实施方式的非接触非破坏检查系统具备传感器、速度检测部以及损伤检测部。传感器检测起因于在检查对象物中传播的第1弹性波而向围绕所述检查对象物的介质发射的第2弹性波。速度检测部根据所述第2弹性波的波阵面角度和所述第2弹性波的速度检测所述第1弹性波的速度。损伤检测部基于所述第1弹性波的速度检测所述检查对象物的损伤。
基本信息
专利标题 ：
非接触非破坏检查系统、信号处理装置以及非接触非破坏检查方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114364979A
申请号 ：
CN202080059865.9
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
碓井隆大野博司渡部一雄
申请人 ：
株式会社东芝
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
孙蕾
优先权 ：
CN202080059865.9
主分类号 ：
G01N29/14
IPC分类号 ：
G01N29/14 G01N29/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/14
利用声波发射技术
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/14
申请日 : 20200529
申请日 : 20200529
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
