处理块擦除操作期间产生的不良块
公开
摘要
一种存储器组件包含多个保险丝、具有多个块的存储器阵列和以操作方式与所述存储器阵列和所述多个保险丝耦合的控制逻辑。所述控制逻辑将接收与所述存储器阵列相关联的擦除命令，且响应于接收所述擦除命令而尝试从所述存储器阵列擦除所述多个块中的块。所述控制逻辑进一步检测到未能完全擦除所述块。所述控制逻辑进一步响应于所述未能完全擦除所述块而接收熔断保险丝命令。所述控制逻辑将熔断所述多个保险丝中与所述块耦合的保险丝，以使得所述多个块中的所述块不可由所述控制逻辑存取。
基本信息
专利标题 ：
处理块擦除操作期间产生的不良块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114303196A
申请号 ：
CN202080060014.6
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2020-08-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
D·J·哈伯德M·S·汉密尔顿K·R·布兰特W·阿金
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN202080060014.6
主分类号 ：
G11C16/14
IPC分类号 ：
G11C16/14 G11C16/22 G11C29/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C16/00
可擦除可编程序只读存储器
G11C16/02
电可编程序的
G11C16/04
使用可变阀值晶体管的，例如，FAMOS
G11C16/10
编程或数据输入电路
G11C16/14
用于电擦除的电路，例如擦除电压开关电路
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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