改善离子检测器的泵送的方法和设备
公开
摘要
本发明总体上涉及用于诸如质谱仪的科学分析装备的操作以改善性能和/或使用寿命的方法。这种方法可以包括以下步骤：提供包括具有一定质量范围的离子的离子流，基于质量分离离子流的离子，以及控制分离的离子对离子检测器的电子发射表面的撞击的定时和/或次序，以修改离子检测器的一个或多个参数。
基本信息
专利标题 ：
改善离子检测器的泵送的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556521A
申请号 ：
CN202080060208.6
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-08-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
K·宏特尔R·尤雷克
申请人 ：
艾德特斯解决方案有限公司
申请人地址 ：
澳大利亚新南威尔士州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
刘书航
优先权 ：
CN202080060208.6
主分类号 ：
H01J49/00
IPC分类号 ：
H01J49/00
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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