光测距装置
实质审查的生效
摘要
光测距装置(200)具备：发光部(40)，其射出激光(DL)；扫描部(50)，其对从发光部射出的激光进行扫描；受光部(60)，其接受入射光；旋转角度传感器(54)，其检测扫描部的旋转角度；以及控制装置，其是获取旋转角度并向发光部输出驱动信号的控制装置(100)，使用至少利用从上述旋转角度的获取时刻到激光的射出时刻为止的射出延迟期间而决定的校正值，执行上述激光的射出定时的校正、和使用从接受到上述激光的上述受光部输出的受光信号而生成的距离数据的检测角度的校正中的任意一方的校正控制。
基本信息
专利标题 ：
光测距装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114341664A
申请号 ：
CN202080062487.X
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
植野晶文柏田真司水野文明
申请人 ：
株式会社电装
申请人地址 ：
日本爱知县
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
邰琳琳
优先权 ：
CN202080062487.X
主分类号 ：
G01S7/481
IPC分类号 ：
G01S7/481 G01S7/497 G01S17/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/48
与G01S17/00组相应的系统的
G01S7/481
结构特征，例如光学元件的布置
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/481
申请日 : 20200831
申请日 : 20200831
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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