测距装置
实质审查的生效
摘要
发光元件(151)射出检测光(L1)。第一透镜(152)允许检测光(L1)通过。第一光纤维(153)将检测光(L1)导向第一透镜(152)。第二透镜(154)允许物体(200)所反射的检测光(L1)的反射光(L2)通过。第二光纤维(155)将通过第二透镜(154)的反射光(L2)导向感光元件(156)。处理器(157)基于从由发光元件(151)射出检测光(L1)到反射光(L2)入射到感光元件(156)的时间，算出到物体(200)的距离。
基本信息
专利标题 ：
测距装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114467036A
申请号 ：
CN202080069910.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2020-09-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
井上宙
申请人 ：
株式会社小糸制作所
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
谢辰
优先权 ：
CN202080069910.9
主分类号 ：
G01S7/481
IPC分类号 ：
G01S7/481 G01S17/931 G01C3/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/48
与G01S17/00组相应的系统的
G01S7/481
结构特征，例如光学元件的布置
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/481
申请日 : 20200914
申请日 : 20200914
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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