测距装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供测距装置，特性设定部(7)将在受光部(3)获取的受光光量的时间变化作为受光信息，根据一个以上的受光信息，提取从发光部(2)照射的光亦即照射光以外的脉冲光的受光光量范围、以及受光时间范围的至少一方作为指定范围。受光累计部(6)生成遍及多次发光在使发光定时一致的时间轴上累计根据受光信息得到的信息的至少一部分的累计受光信息。距离计算部(8)基于在特性设定部提取出的指定范围除去或者确定由于照射光以外的脉冲光而产生的距离噪声，并计算到反射了照射光的物体为止的距离。
基本信息
专利标题 ：
测距装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114341665A
申请号 ：
CN202080062536.X
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
藤泽贵祥植野晶文尾崎宪幸
申请人 ：
株式会社电装
申请人地址 ：
日本爱知县
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王鑫
优先权 ：
CN202080062536.X
主分类号 ：
G01S7/481
IPC分类号 ：
G01S7/481 G01S7/497 G01S17/08 G01S17/931
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/48
与G01S17/00组相应的系统的
G01S7/481
结构特征，例如光学元件的布置
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/481
申请日 : 20200901
申请日 : 20200901
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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