具有用于校正色相差诱发的成像误差的校正设备的方法和显微镜
公开
摘要
为了校正具有镜头(14)和自适应光学器件(18)的光学系统的色相差诱发的成像误差，如此选择光(5)和样本(20)，使得光(5)在对样本(20)起作用时减少来自样本(20)的测量信号(28)，其中，测量信号(28)的相对改变取决于光(5)的强度。在第一和之后的第二时间段(38、37)上检测来自在样本(20)中的、光学系统的聚焦区域的测量信号(28)，以便确定第一和第二测量值。在与第一和/或第二时间段重叠的第三时间段(39)上，借助光学系统将光(5)聚焦到聚焦区域中。由第一和第二测量值确定用于测量信号(28)的相对改变的度量值，并在自适应光学器件(18)的操控中将其用作待优化的指标。
基本信息
专利标题 ：
具有用于校正色相差诱发的成像误差的校正设备的方法和显微镜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114424049A
申请号 ：
CN202080062711.5
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2020-07-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·艾格纳C·盖斯勒F·罗卡
申请人 ：
哥廷根纳米光子学研究所
申请人地址 ：
德国哥廷根
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭毅
优先权 ：
CN202080062711.5
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/01 G02B21/06 G02B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
