原子磁力计系统
公开
摘要
公开一种原子磁力计系统，其包括可变磁场源(14)，配置为提供振荡初级磁场以使样本(16)产生次级磁场。原子磁力计系统还包括用于检测次级磁场的原子磁力计。原子磁力计包括原子样本；泵浦和探测子系统，配置为泵浦原子样本以产生极化以及利用探测光束探测原子样本内的原子相干进动；检测器，配置为检测探测光束以产生检测信号。所述系统配置为根据检测信号驱动可变磁场源(14)，所述检测信号具有调谐至射频谐振的频率。还公开一种操作原子磁力计的方法。
基本信息
专利标题 ：
原子磁力计系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114424077A
申请号 ：
CN202080063250.3
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2020-07-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
W·查卢普扎克R·加特曼P·帕文顿
申请人 ：
NPL管理有限公司;思克莱德大学
申请人地址 ：
英国米德尔塞克斯郡
代理机构 ：
南京苏创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张学彪
优先权 ：
CN202080063250.3
主分类号 ：
G01R33/26
IPC分类号 ：
G01R33/26 G01N24/00 G01N27/90 G01N27/9013 A61B5/0522
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/24
用于测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/26
采用光泵激
法律状态
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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