用于校准磁力计的方法
授权
摘要
本发明涉及一种用于校准磁力计的方法，包括以下步骤：‑磁力计行进通过(S1)一组路径方位，‑由磁力计获取(S2)磁场的多个测量结果，‑提供(S3)表示固定到磁力的点的位置和取向的轨迹信息，‑将磁场的测量结果与轨迹信息进行匹配(S4)，‑通过使代价函数最小化来确定确定(S5)磁力计的校准参数，代价函数针对多个确定时间至少涉及：校准参数、磁场的测量结果、将磁场的变化与从轨迹信息中导出的磁力计的位置和取向的变化联系起来的关系。
基本信息
专利标题 ：
用于校准磁力计的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111149002A
申请号 ：
CN201880062290.9
公开（公告）日 ：
2020-05-12
申请日 ：
2018-07-26
授权号 ：
CN111149002B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
大卫·维西埃查尔斯-伊凡·切斯诺马蒂厄·希尔伊恩昂德里克·迈耶大卫·卡鲁索
申请人 ：
西斯纳维
申请人地址 ：
法国韦尔农
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
王小衡
优先权 ：
CN201880062290.9
主分类号 ：
G01P21/00
IPC分类号 ：
G01P21/00 G01R35/00 G01C25/00 G01C17/38 G01R33/02 G01V3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01P
线速度或角速度、加速度、减速度或冲击的测量；运动的存在或不存在的指示；运动的方向的指示、传播时间或传播方向来测量固体物体的方向或速度入G01S；核辐射速度的测量入G01T）
G01P21/00
包含在本小类其他组中的仪表或装置的测试或校准
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-06-05 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01P 21/00
申请日 : 20180726
申请日 : 20180726
2020-05-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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