确定磁力计校准参数的方法、装置、电子设备及存储介质
授权
摘要
本公开提供了一种确定磁力计校准参数的方法、装置、电子设备及存储介质，属于电子技术领域。所述方法包括：确定椭球校准模型对应的第一损失函数和陀螺仪校准模型对应的第二损失函数；对第一损失函数和第二损失函数中待确定的磁力计校准参数进行联合优化，得到优化后的磁力计校准参数。本公开联合椭球校准模型和陀螺仪校准模型，在采集到的磁力计校准数据的数量较少无法正确描述椭球校准模型时，主要依赖椭球校准模型确定磁力计校准参数，在采集到的磁力计校准数据的数量较多时，同时依赖椭球校准模型和陀螺仪校准模型进行确定，采用该种方法提高了所确定的磁力计校准参数的准确性，进一步提高了对电子设备的定位精度。
基本信息
专利标题 ：
确定磁力计校准参数的方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112964278A
申请号 ：
CN202110321345.7
公开（公告）日 ：
2021-06-15
申请日 ：
2021-03-25
授权号 ：
CN112964278B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
李智超陈刚谷俊豪杨威柳青松
申请人 ：
北京三快在线科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区北四环西路9号2106-030
代理机构 ：
北京三高永信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
谢冬寒
优先权 ：
CN202110321345.7
主分类号 ：
G01C25/00
IPC分类号 ：
G01C25/00 G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2021-08-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 25/00
申请日 : 20210325
申请日 : 20210325
2021-06-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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