微粒分选微芯片的灌注方法、微粒分选方法、微粒分选装置和程...
公开
摘要
提供了一种用于有效地灌注用于微粒分离的微芯片的装置。在用于微粒分选的微芯片中，该微芯片包括样品液流路、在合并单元处与样品液流路合并的鞘液流路、在一端具有前述合并单元的合并流路、在合并流路的另一端处经由连接流路与合并流路连接的微粒回收流路、在合并流路的所述另一端处与合并流路连接的分支流路以及用于将液体导入连接流路的导入流路，用于微粒分选的微芯片的该灌注方法包括：第一灌注步骤，将第一液体从导入流路供应到连接流路，由此用第一液体灌注微粒回收流路；以及第二灌注步骤，使第二液体从鞘液流路流到合并流路，由此用第二液体灌注分支流路。
基本信息
专利标题 ：
微粒分选微芯片的灌注方法、微粒分选方法、微粒分选装置和程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556085A
申请号 ：
CN202080073173.X
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-08-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
坂本直久松本真宽甲斐慎一田代真司高桥和也町田良史
申请人 ：
索尼集团公司
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
余刚
优先权 ：
CN202080073173.X
主分类号 ：
G01N15/14
IPC分类号 ：
G01N15/14 C12M1/00 C12M1/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
G01N15/14
电光测试
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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