超短光脉冲放大压缩系统CEP的噪声测量、稳定控制方法及系...
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摘要
本发明公开了一种超短光脉冲放大压缩系统CEP的噪声测量、稳定控制方法及系统，其实现原理为：将种子光经过超短光脉冲放大压缩系统后，再经声光移频器产生光频频移；光频频移的频移量来自外部施加的一个稳定的射频信号，从而产生一个相对于种子光偏置频率的附加偏置频率的信号光；携带附加偏置频率的信号光与种子光拍频得到拍频信号；通过测量该拍频信号的功率谱密度即可得到超短光脉冲放大压缩系统产生的CEP噪声信号的噪声谱；拍频信号与所述射频信号进行相位比较检测得到检相信号；检相信号经过锁相放大反馈到光电色散调制器以实现对放大压缩系统CEP的全频带宽稳定控制。本发明实施过程简单、实用，并且适用于多种形式的超短光脉冲放大压缩系统。
基本信息
专利标题 ：
超短光脉冲放大压缩系统CEP的噪声测量、稳定控制方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112880824A
申请号 ：
CN202110018250.8
公开（公告）日 ：
2021-06-01
申请日 ：
2021-01-07
授权号 ：
CN112880824B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
王屹山程昭赵卫王向林
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
唐沛
优先权 ：
CN202110018250.8
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2021-06-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20210107
申请日 : 20210107
2021-06-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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