一种基于宏像素分割的单像素多光谱成像方法及装置
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摘要

本发明公开了一种基于宏像素分割的单像素多光谱成像方法及装置。该方法对待测光谱立方体进行宏像素分割和波长‑位置编码,以在一次二维采样过程中实现对三维光谱立方体的采样。本发明进一步设计了一种单像素多光谱成像装置,将预设的二维编码加载到空间光调制器上,用于产生结构光照明;使用特定阵列滤波片对照明光场进行宏像素分割和波长‑位置编码;用单点探测器对经被测场景作用后的光场强度值进行探测;根据一维强度测量值,用重构算法对待测场景的二维空间信息、光谱信息进行重构,从而还原得到多光谱成像结果。该方法光路简单,采样速度快,且能通过对阵列滤波片的设计选取合适波段及波段数目,能实现快速、有效的单像素多光谱成像。

基本信息
专利标题 :
一种基于宏像素分割的单像素多光谱成像方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113048907A
申请号 :
CN202110184220.4
公开(公告)日 :
2021-06-29
申请日 :
2021-02-08
授权号 :
CN113048907B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
郑臻荣谢秦陶陈凝刘新宇陶骁孙妍
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
郑海峰
优先权 :
CN202110184220.4
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  G01J3/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-07-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20210208
2021-06-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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