基于液晶高光谱计算成像系统的三维自适应压缩重构方法
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摘要

本发明公开了一种基于液晶高光谱计算成像系统的三维自适应压缩重构方法,液晶高光谱计算成像系统包括LCTF、编码孔径、探测器和光学透镜。方法包括:采集LCTF在各光谱通道下的低分辨率图像,获得低分辨率数据立方体;进行插值操作,快速得到高分辨率的高光谱数据立方体;利用自适应编码规则,基于高光谱数据立方体生成各滤波波段所需的自适应编码孔径;通过自适应编码孔径分别获取各光谱通道下的压缩测量值;基于压缩感知理论,根据系统的观测矩阵、稀疏基和压缩测量值,重构出高分辨率的目标光谱数据立方体。本发明利用先验信息设计自适应编码孔径和空‑谱联合字典,使得本发明对目标场景有很强的适应性,能够提升成像质量。

基本信息
专利标题 :
基于液晶高光谱计算成像系统的三维自适应压缩重构方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113008370A
申请号 :
CN202110228167.3
公开(公告)日 :
2021-06-22
申请日 :
2021-03-02
授权号 :
CN113008370B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
许廷发徐畅王茜张宇寒樊阿馨
申请人 :
北京理工大学;北京理工大学重庆创新中心
申请人地址 :
北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 :
成都九鼎天元知识产权代理有限公司
代理人 :
封浪
优先权 :
CN202110228167.3
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-06-14 :
授权
2021-07-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20210302
2021-06-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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