一种宽波段成像传感器的相对光谱响应测量装置及方法
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摘要

本发明公开了一种宽波段成像传感器的相对光谱响应测量装置及方法,可用于各类宽波段成像传感器的光谱定标,解决了现有技术中,对成像传感器的光谱响应进行测量时,采用传统光谱定标光源不能实现对不同光谱分辨率和光谱范围的相对光谱响应进行测量的要求,或者是光谱分辨率和光通量较低的问题。该装置包括沿光路依次设置的定标光源、滤光片、均匀化柱状导光管、光阑、准直镜、时间调制型干涉仪、积分球以及宽波段成像传感器。同时,本发明还提出了一种宽波段成像传感器的相对光谱响应测量方法,采用宽波段定标光源来产生时域干涉信号,具有高通量、高光谱分辨率的技术优势。

基本信息
专利标题 :
一种宽波段成像传感器的相对光谱响应测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113108908A
申请号 :
CN202110244818.8
公开(公告)日 :
2021-07-13
申请日 :
2021-03-05
授权号 :
CN113108908B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
冯玉涛柏财勋李立波范文慧胡炳樑
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
史晓丽
优先权 :
CN202110244818.8
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-10 :
授权
2021-07-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20210305
2021-07-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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