一种硅光电二极管的光谱响应测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种硅光电二极管的光谱响应测量装置,该装置包括白光光源、光学调制盘、准直透镜、可调离轴抛物镜、平面光栅、可调微透镜、可变光阑、准直透镜、热释电探测器、锁相放大器和计算机。本实用新型能对入射光波长为400nm至1050nm硅光电二极管的光谱响应曲线快速测量，能一次性得出准确硅光电二极管的光谱响应曲线。
基本信息
专利标题 ：
一种硅光电二极管的光谱响应测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921911190.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-07
授权号 ：
CN211553068U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
李林曾丽娜李再金乔忠良赵志斌曲轶彭鸿雁
申请人 ：
海南师范大学
申请人地址 ：
海南省海口市琼山区龙昆南路99号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921911190.7
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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