一种基于霍夫变换法的X射线光栅干涉仪成像方法
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摘要

本发明公开了一种基于霍夫变换法的X射线光栅干涉仪成像方法,是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位调制光栅、吸收分析光栅、图像探测器所构成的X射线光栅干涉仪中,且在沿Y轴向上中心对齐;X射线入射到相位调制光栅被空间调制,出射的调制X射线在穿透被成像物后,入射到分析调制光栅,X射线的空间调制被转换成光强变化后,被图像探测器测量并记录;利用提出的霍夫变换法处理图像探测器记录的投影图像,可获取被成像物的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决在有显著的脉冲噪声和探测器饱和噪声时,被成像物的吸收、折射和暗场信号的准确提取问题。

基本信息
专利标题 :
一种基于霍夫变换法的X射线光栅干涉仪成像方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113063809A
申请号 :
CN202110312222.7
公开(公告)日 :
2021-07-02
申请日 :
2021-03-24
授权号 :
CN113063809B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
王志立陈恒
申请人 :
合肥工业大学
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区屯溪路193号
代理机构 :
安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
代理人 :
陆丽莉
优先权 :
CN202110312222.7
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2022-05-10 :
授权
2021-07-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20
申请日 : 20210324
2021-07-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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