微纳结构图形试样的高速跟踪方法
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摘要

微纳结构图形试样的高速跟踪方法,包括计算机、照明成像模块、二向色棱镜、调焦机构、压电陶瓷、物镜、待跟踪的微纳结构图形试样、工件台、探测器、象散模块、分光模块、扩束镜、激光器和控制器。将待跟踪的微纳结构图形试样放置于工件台上,通过调焦机构的上下移动,使得待跟踪的微纳结构图形试样的表面在照明成像模块清晰成像。调节扩束镜,使得激光器发出的激光聚焦在待跟踪的微纳结构图形试样的表面,同步控制工件台与控制器,完成待跟踪的微纳结构图形试样的运动与跟踪。本发明微纳结构图形试样的高速跟踪方法可以高速、高精度、高灵敏度的对微纳结构图形试样进行自动跟踪,保证微纳结构图形清晰成像,为后续的读取与检测提供保证。

基本信息
专利标题 :
微纳结构图形试样的高速跟踪方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113206950A
申请号 :
CN202110390170.5
公开(公告)日 :
2021-08-03
申请日 :
2021-04-12
授权号 :
CN113206950B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
刘星魏劲松陈国东郑金轮赵培均
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 :
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张宁展
优先权 :
CN202110390170.5
主分类号 :
H04N5/232
IPC分类号 :
H04N5/232  H04N5/225  H04N5/235  G01N21/01  
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法律状态
2022-05-31 :
授权
2021-08-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 5/232
申请日 : 20210412
2021-08-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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