本申请涉及存储器装置及其操作方法。一种存储器装置包括：存储器单元阵列，其包括多个存储块，每个存储块包括多个串，其中多个存储块被控制为具有设定温度；外围电路，其用于对多个存储块当中的被选存储块执行读取操作；温度检测电路，其用于检测存储器单元阵列的温度并基于存储器单元阵列的温度产生温度检测信号；以及控制逻辑，其用于在读取操作期间控制外围电路，并且被配置为响应于温度检测信号而产生加热控制信号，加热控制信号可以控制被选存储块以具有设定温度。