光检测和测距系统以及光学系统
公开
摘要
本发明涉及光检测和测距系统以及光学系统。提供了使用第一发射结构的第一电磁辐射作为从光检测和测距系统外部接收到的第二电磁辐射的本地振荡器信号的光检测和测距系统，其中第一电磁辐射和第二电磁辐射是相干的，并且得到的信号由检测结构检测。得到的信号与光检测和测距系统外部的目标的信息相对应。
基本信息
专利标题 ：
光检测和测距系统以及光学系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325727A
申请号 ：
CN202110856771.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-07-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
G·拉库尔吉克
申请人 ：
英特尔公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
黄嵩泉
优先权 ：
CN202110856771.0
主分类号 ：
G01S17/02
IPC分类号 ：
G01S17/02 G01S17/08 G01S7/481
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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